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EM TIC 3X - Fresa angolare a fascio ionico

Sistema di fresatura a fascio ionico Leica EM TIC 3X

Descrizione

Il Triple Ion Beam Milling System, Leica EM TIC 3X consente la produzione di sezioni trasversali e superfici piane per microscopia elettronica a scansione (SEM), analisi della microstruttura (EDS, WDS, Auger, EBSD) e indagini AFM.

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